Zeiss xradia context microct - science des matériaux, ingénierie, géosciences
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Alexia CHAUDERLOT
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par CARL ZEISS - DIVISION MÉTROLOGIE
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Description
ZEISS Xradia Context CT est un système de tomographie par micro-calcul 3D (Micro-computed tomographie) à rayons X non destructif et à grand champ de vision. Avec une platine robuste et un positionnement source / détecteur flexible contrôlé par logiciel, vous pouvez créer des échantillons de grande taille, lourds (25 kg) et de grande taille dans leur contexte 3D complet, ainsi que de petits échantillons haute résolution et détaillés. Â
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CARL ZEISS - DIVISION MÉTROLOGIE
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France, Rueil Malmaison, (92) Ile-de-France
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ZEISS, entreprise technologique de premier plan à l'échelle internationale, est présente dans plus de 50 pays et emploie 31 000 salariés dans le monde. ZEISS développe, produit et distribue des solutions hautement innovantes pour la métrologie industrielle et le contrôle qualité, des solutions de microscopie pour la recherche en sciences de la vie et des matériaux ainsi que des solutions de technologie médicale pour le diagnostic et le traitement en ophtalmologie et en microchirurgie. Notre gamme de produits dédiés à la métrologie comprend des machines de mesure tridimensionnelle, des systèmes optiques et multicapteurs, des capteurs et systèmes de mesure 3D ainsi que des logiciels de métrologie pour les industries automobile, aéronautique, mécanique, plastique, énergie, défense et médicale. Des technologies innovantes telles que la métrologie par rayons X 3D pour le contrôle qualité et la microscopie industrielle pour l'analyse des matériaux complètent le portefeuille de produits.
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