Vista-ir molecular vista microscope nano ftir

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Description

Sa technique unique brevetée de microscopie à force photo-induite (PiFM) mesure la réponse optique du champ proche de l'échantillon par détection de force mécanique, rendant la technique robuste et facile à utiliser. Le spectre PiFM fiable et répétable obtenu offre un spectre " nano-FTIR" en moins d'une seconde.
Le Vista-IR est équipé d'un laser infrarouge avec la plus large gamme de réglages et la meilleure stabilité du faisceau. Le même laser peut être utilisé pour l'imagerie, une acquisition de spectre extrêmement rapide, et même pour des techniques supplémentaires telles que la microscopie de champ proche s-SNOM.
Beaucoup de fonctionnalités automatisées et d'aide à l'utilisateur rendent l'outil robuste et aussi simple que l'utilisation d'un AFM standard.

Caractéristiques du matériel
Type champ proche, force atomique

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