Vhx-7000 - microscopes optiques professionnels - keyence - haute précision

MICROSCOPE OPTIQUE
Affichage, capture et mesure à l'aide d'un seul système

• Keyence: Fabricant de microscopes optiques numériques depuis plus de 30 ans
• Grande profondeur de champ : 20x supérieure à celle des microscopes optiques classiques
• Haute précision : capteur d'image CMOS 4K

EN QUOI LE MICROSCOPE OPTIQUE SÉRIE VHX-7000 EST-IL UNIQUE ?
Ce microscope optique permet d'inspecter les matériaux et combine des fonctions avancées d'observation, de capture d'image et de mesure grâce à sa technologie de traitement d'image intégrée.
Il garantit une grande profondeur de champ 20x supérieure à celle des microscopes optiques classiques. Il est conçu pour faire des observations rapides et sous tous les angles.
POURQUOI LE MICROSCOPE OPTIQUE SÉRIE VHX-7000 EST-IL SIMPLE D'UTILISATION ?
Ce microscope optique est équipé d'une console de commande complète. Vous pouvez contrôler l'ensemble des composants à partir de la console, du réglage de la mise au point à celui du grossissement. La simplicité de conception garantit une utilisation intuitive.
Tout utilisateur, quel que soit son niveau d'expérience, peut obtenir instantanément des images entièrement nettes de haute qualité et réduire ainsi considérablement le temps consacré au contrôle de matériaux.
POURQUOI CHOISIR CE MICROSCOPE OPTIQUESÉRIE VHX-7000 ?
Caméra CMOS 4K Haute précision : capteur d'image de 12 mégapixels pour une image 6 fois plus détaillée à chaque niveau de grossissement.Objectif haute résolution : Observation sans précédent de faible à fort grossissement avec une ouverture numérique max. de 0,9.Mode d'ombres accentuées : observez clairement des détails infimes qui étaient jusqu'alors impossibles
Outils de mesure 2D / 3D en temps réel : permet d'obtenir des données de profil, de hauteur et de volume à partir d'images 3D
QUELLES APPLICATIONS AVEC LE MICROSCOPE OPTIQUE SÉRIE VHX-7000 ?

• Métallographie / cristallographie   
• Caractérisation / état de surface de matériaux
• Relevé topographique
• Analyse de la contamination (Norme ISO 16232)  
• Comptage de particules  
• Rugosité
• Analyse et mesure de cracks et fissures  
• Analyse de rupture des matériaux 
• Etude de soudure, poudre, fibres