Spectromètre fischerscope® x-ray xan®3xx
Malheureusement, ce produit n'est plus disponible dans notre catalogue.
Devis pour produits similaires
Plusieurs devis en seulement 1 min
Produits similaires
Voir les produits
Le FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® est un spectromètre X-Ray destiné à l'analyse quantitative des matériaux.
La large gamme d'éléments décelables, de l'Aluminium à l'Uranium, fait du FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® un appareil qui trouve son application aussi bien dans l'industrie que dans les domaines scientifiques. Que les applications d'analyse soient métallurgiques, géologiques, pétrochemiques ou d'autres natures, le FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® répondra à ces besoins de manière puissante et au meilleur coût.
La caméra vidéo couleur intégrée permet de positionner le faisceau de rayons X rapidement et avec précision à l'endroit où la pièce doit être analysée. L'appareil réunit des caractéristiques et des performances qu'on ne trouve pas dans d'autres appareils d'analyse de cette gamme de prix.
L'exceptionnel logiciel WinFTM® Version 6 est le coeur de l'appareil. Il permet l'analyse jusqu'à un maximum de 24 éléments, sans nécessité d'étalons et avec une précision de mesure prédéterminée, ainsi que la mesure de systèmes très complexes de revêtements.
Domaine d'utilisation:
__
La large gamme d'éléments décelables, de l'Aluminium à l'Uranium, fait du FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® un appareil qui trouve son application aussi bien dans l'industrie que dans les domaines scientifiques. Que les applications d'analyse soient métallurgiques, géologiques, pétrochemiques ou d'autres natures, le FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® répondra à ces besoins de manière puissante et au meilleur coût.
La caméra vidéo couleur intégrée permet de positionner le faisceau de rayons X rapidement et avec précision à l'endroit où la pièce doit être analysée. L'appareil réunit des caractéristiques et des performances qu'on ne trouve pas dans d'autres appareils d'analyse de cette gamme de prix.
L'exceptionnel logiciel WinFTM® Version 6 est le coeur de l'appareil. Il permet l'analyse jusqu'à un maximum de 24 éléments, sans nécessité d'étalons et avec une précision de mesure prédéterminée, ainsi que la mesure de systèmes très complexes de revêtements.
Domaine d'utilisation:
__
Quel type de spectromètre de fluorescence X recherchez-vous ?
Produits similaires dans la catégorie qui peuvent vous intéresser
Prix sur demande
Vendu par : FRANCE SCIENTIFIQUE
Vendeur certifié
Le M1 MISTRAL est un spectromètre Micro-XRF compact de table qui permet d'analyser les matériaux en vrac et les revêtements. Le spectromètre Micro-XRF M1 MISTRAL est conçu pour fonctionner rapidement et de manière rentable. Il fournit des informations précises sur la composition élémentaire
Voir le produit
Prix sur demande
Vendu par : FRANCE SCIENTIFIQUE
Vendeur certifié
Micro-XRF bidimensionnelle avec ce qui se fait de mieux en matière de vitesse et de précision
L'instrument de prédilection pour l'analyse sensible et non-destructive des éléments
Le spectromètre Micro-XRF M4 TORNADO est l'outil idéal pour la caractérisation des échantillons en procédant Ã
Voir le produit
Prix sur demande
Vendu par : FRANCE SCIENTIFIQUE
Vendeur certifié
La performance dans l'analyse des objets volumineux
Le Bruker M6 JETSTREAM est conçu pour l'analyse élémentaire non destructive de grands échantillons. La mobilité de l'instrument lui permet d'être placé sur le site de l'objet d'intérêt, que ce soit dans une galerie, un musée ou dans l'at
Voir le produit
Prix sur demande
Vendu par : Malvern Panalytical
Vendeur certifié
Le nouveau spectromètre de fluorescence X (XRF) de paillasse Epsilon 4 secoue le monde de l'analyse élémentaire. Ses performances d'analyse exceptionnelles en terme de limite de détection et de rapidité, le rendent idéal pour le contrôle de procédé et la qualité produit. Les dernières ava
Voir le produit
Prix sur demande
Vendu par : MILEXIA FRANCE
Le FT 150 est un appareil de mesure d'épaisseur fixe de haute performance permettant la détection de revêtement extrêmement fins. Le FT150 est un équipement de fluorescence x dédié à la mesure d'épaisseur. Disposant d'un faisceau de 30µm de forte intensité (système poly - capillaire), il
Voir le produit
