S onix : module optique 3d ultra rapide
Description
S onix : module optique 3D ultra rapide
Le module de profilomètre optique 3D sans contact ultra rapide SENSOFAR S ONYX peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels nécessitant la plus grande vitesse d?acquisition et de traitement des données.
Il offre une grande variété de fonctionnalités. 3 technologies complémentaires sont intégrées : Confocale, Interférométrie, Variation de Focus, procurant de multiples possibilités d?observation et d?analyse tridimensionnelle quelque soit la nature de l?échantillon et des informations de surface recherchées.
Des suites logicielles complètes et évolutives (SensoSCAN, SensoPRO), permettent une exploitation complète et précise des résultats.
Spécifications principales :
-Techniques de mesure : Confocal, VSI, Focus Variation
-Résolution d?affichage : 0,01 nm
-Résolution du pas en Z : 2nm
-Linéarité sur l?axe Z : <0,5 µm/mm
-Répétabilité de la mesure du pas en Z : <3nm
-Excursion de balayage en Z : VSI (7mm)
-Source lumineuse : LED Blanche (durée de vie : 40.000 h)
-Logiciel de pilotage : SensoSCAN
-Logiciels d?analyse : SensoPRO
-PC Microsoft Windows 10 64 bits
Le module de profilomètre optique 3D sans contact ultra rapide SENSOFAR S ONYX peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels nécessitant la plus grande vitesse d?acquisition et de traitement des données.
Il offre une grande variété de fonctionnalités. 3 technologies complémentaires sont intégrées : Confocale, Interférométrie, Variation de Focus, procurant de multiples possibilités d?observation et d?analyse tridimensionnelle quelque soit la nature de l?échantillon et des informations de surface recherchées.
Des suites logicielles complètes et évolutives (SensoSCAN, SensoPRO), permettent une exploitation complète et précise des résultats.
Spécifications principales :
-Techniques de mesure : Confocal, VSI, Focus Variation
-Résolution d?affichage : 0,01 nm
-Résolution du pas en Z : 2nm
-Linéarité sur l?axe Z : <0,5 µm/mm
-Répétabilité de la mesure du pas en Z : <3nm
-Excursion de balayage en Z : VSI (7mm)
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