Profilomètre mécanique pour l'industrie, la recherche et le développement - P17
Description
1. Performant
2. Haute résolution
3. Industrie et R&D
4. Entièrement motorisé
5. Platine de 200mm (300mm en option)
6. Rotation à 360°
Le P-17 est un profileur de stylet de paillasse de pointe, fondé sur plus de 40 ans d'expérience en métrologie de surface. Le P-17 est capable de mesurer des marches de quelques nanomètres à un millimètre, pour les environnements de production et de recherche et développement.
Le système prend en charge les mesures 2D et 3D de hauteurs de pas, de rugosité, d'archet et de contraintes pour des numérisations allant jusqu'à 200 mm sans couture.
- Hauteur de marche: hauteur de marche 2D et 3D
- Texture: rugosité et ondulation 2D et 3D
- Forme: arc et forme 2D et 3D
- Stress: Contrainte de film mince 2D et 3D
- Examen des défauts: topographie de la surface des défauts 2D et 3D
- Industries
- Universités, laboratoires de recherche et instituts
- Semi-conducteur et semi-conducteur composé
- LED: diodes électroluminescentes
- Solaire
- MEMS: systèmes micro-électro-mécaniques
- Stockage de données
- Automobile
- Équipement médical
- Performant
- Haute résolution
- Industrie et R&D
- Entièrement motorisé
- Platine de 200mm (300mm en option)
- Rotation à 360°
Le P-17 est un profilomètre optique de table de huitième génération, fondé sur plus de 40 ans d'expérience en métrologie de surface. Ce système de pointe prend en charge les mesures 2D et 3D de la hauteur des marches, de la rugosité, de l’arc et des contraintes pour les numérisations jusqu’à 200 mm sans couture. Une excellente stabilité de mesure est obtenue grâce à la combinaison d'un capteur UltraLite®, d'un contrôle constant de la force et d'un plateau de balayage ultra-plat. La configuration de la recette est simple et rapide grâce aux commandes de la scène par pointer-cliquer, aux optiques de vues de dessus et de côté et à une caméra haute résolution avec zoom optique. Le P-17 prend en charge les mesures 2D ou 3D, avec une variété d’algorithmes de filtrage, de nivellement et d’analyse permettant de quantifier la topographie de la surface. Des mesures entièrement automatisées sont réalisées avec reconnaissance de formes, séquençage et détection de caractéristiques.
- Hauteur de marche: Nanomètres jusqu'à 1000 µm
- Force faible avec contrôle de la force constante: 0,03 à 50 mg
- Scannez le diamètre complet de l'échantillon sans coudre
- Vidéo: Caméra couleur haute résolution 5MP
- Correction d'arc: supprime les erreurs dues au mouvement d'arc du stylet
- Logiciel: interface logicielle facile à utiliser
- Capacité de production: Entièrement automatisée avec séquençage, reconnaissance de formes et SECS / GEM