Plateforme de métrologie optique altisurf© twin
Description
- Métrologie des états de surface
- Spécifications - type :
* Max. f. dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
* Epaisseur, dessus-dessous multiplexée temps réel
avec cohérence des profils et surfaces
- Axes motorisés cc
- Applications
* Mesures d'épaisseurs absolues en référence Top-Down-Thickness
* Cartographies 3D
* Epaisseurs de films transparents
* Métrologies des " scores"
- Spécifications - type :
* Max. f. dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
* Epaisseur, dessus-dessous multiplexée temps réel
avec cohérence des profils et surfaces
- Axes motorisés cc
- Applications
* Mesures d'épaisseurs absolues en référence Top-Down-Thickness
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Type d'appareil :
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