Oes qlx3 - quantolux

OES QLX3 - Quantolux
Présentation du produit QLX3
QLX3 est un spectromètre laser de paillasse OES pour de nombreuses applications. Il détermine la composition élémentaire de la matière solide en quelques secondes minimisant le temps de l'opérateur.
Sa conception innovante surmonte de nombreuses limitations et restrictions des autres technologies. Les derniers développements dans la technologie des lasers et des détecteurs nous ont permis de créer cet instrument analytique unique.
Initialement, l'accent est mis sur tous les types d'applications métalliques. Mais la technologie convient également à diverses autres applications dans les minéraux et l'exploitation minière, le ciment, les scories, etc.
Points forts:
- Analyse complète
- Aucune ou faible consommation d'argon
- Résultats rapides (3-5s)
- Sans entretien
- Pas de contamination croisée
Manipulation facile des échantillons
La manipulation des échantillons sur le porte échantillon du QLX3 est très simple. Tout échantillon compact de plus d'un millimètre peut être directement analysé. Des adaptateurs ou des préparations spéciales ne sont généralement pas nécessaires.
La préparation des échantillons est également très facile. Pour les échantillons métalliques, des surfaces propres sont nécessaires, pas spécifiquement lisses ou rugueuses.
Pour les poudres ou les granulés, des granulés pressés ou des billes fondues doivent être préparés.
Logiciel QLX 4.0
Le logiciel QLX 4.0 possède une interface facile à utiliser et fonctionne via un écran tactile. Il propose des modes de travail pour l'analyse, le tri et l'identification des matériaux (PMI). La bibliothèque de notes est ouverte et peut être éditée librement. Les couleurs mettent en évidence les écarts par rapport aux spécifications de grade.
Les équivalents carbone, la somme des éléments d'atout et d'autres formules de «pseudo-élément» peuvent être créés dans le menu des paramètres et ajoutés à l'affichage.
Les résultats peuvent être enregistrés dans une base de données SQL. Des rapports personnalisés via PDF ou dans Excel sont également pris en charge.
QLXUp! est un service de mise à jour facultatif qui maintient le logiciel QLX 4.0 à jour.
La nouvelle version du logiciel sera automatiquement téléchargée depuis le serveur QuantoLux et l'utilisateur sera averti.
Performance analytique
QLX1 partage de nombreux composants avec la version de laboratoire QLX3. Des systèmes optiques à haute résolution, un puissant laser pulsé sont des conditions préalables importantes pour des performances analytiques exceptionnelles.
Des décennies d'expérience au sein de l'équipe d'application de QuantoLux permettent des solutions analytiques complexes et des étalonnages experts.
L'étalonnage de l'acier est complet avec tous les éléments d'alliage et d'atout pertinents.
QLX1 propose une large gamme d'étalonnages. Toutes les bases métalliques peuvent être recouvertes. Et tout peut être installé sur l'instrument ou ajouté à tout moment plus tard! Un véritable outil puissant - façonner l'avenir de l'OES!
Actuellement, nous nous concentrons sur les applications métalliques, mais bientôt des applications non métalliques seront disponibles.
Veuillez vous renseigner sur vos besoins analytiques et nous vérifierons pour vous!
Boitier de contrôle
Pour mettre votre QLX3 en service de manière transparente, il est livré avec un contrôleur doté du logiciel QLX 4.0 préinstallé, d'étalonnages et de services en ligne.
L'instrument offre un choix de deux contrôleurs différents:
- un écran tactile de 13 ? dans un cadre métallique avec support magnétique; adapté à l'analyse de processus en fonctionnement debout
- un contrôleur à écran tactile de 22 ? pour un travail de bureau confortable.
Troisièmement, les utilisateurs finaux peuvent utiliser leur propre matériel informatique pour contrôler l'instrument.
Concept de design
QLX3 suit un concept de conception unique. Il réunit les avantages des deux mondes, des analyseurs de fluorescence X (XRF) et des spectromètres à étincelles et évite les pièges en même temps.
En détail, cela signifie:
- capable d'exciter n'importe quel matériau
- portée analytique complète! Pas d'éléments de verrouillage, pas de longs temps de mesure.
- Le système couvre tous les éléments pertinents en 3 à 5 secondes à de faibles limites de quantification
- sans entretien, pas de brossage, pas de nettoyage
- l'écran tactile permet une utilisation facile.
- débit d'échantillonnage élevé, pas d'échauffement
Spécifications techniques
Dimensions 585 x 585 x 300 mm (W x D x H)
Weight Ca. 35 kg / ~77 lbs
Operating Temperature 5 to 35° Celsius
Plasma Source Q-switched diode pulsed laser, 1064 nm, Class 1
Optical Systems dual optic
Detectors Complementary Metal-Oxide Semiconductor (CMOS)
Spectral range UV-VIS-nIR
Sample stage 1-3 mm aperture
Max. Power consumption 300 W,