Multidiode-système de mesure de fiabilité de diodes lasers - régime continu/impulsionnel

Système pour l'évaluation de la fiabilité de diodes lasers fibrées pouvant produire des impulsions très courtes (inférieur à 1 nanoseconde). Jusqu'à 112 diodes lasers sont pilotées indépendamment et testées électriquement, thermiquement et optiquement selon des scénarios programmés par l'utilisateur.
Ce système de mesure de fiabilité de diodes lasers a été conçu spécialement pour la qualification et le test de diodes lasers fibrées avec la meilleure flexibilité de mesure interne ou externe. Toutes les diodes laser sont pilotées et mesurées indépendamment les unes des autres.
La puissance optique est mesurée à partir des signaux issus des BFM (Back Facet Monitors) ou de photodiodes externes dédiées avec un gain électronique variable pour une meilleure précision. La température de chaque puce de diode laser ainsi que de chaque boîtier de diode est ajustée indépendamment.
Plusieurs niveaux de sécurisation des données accumulées sont prévus même en cas de coupure de courant.
Les diodes laser de type Butterfly ou autres facteurs de formes issues de chez II-VI, Lumentum ou encore 3SP sont totalement compatibles.
Ces produits sont maintenant proposés par Aerodiode, uneLogo_aerodiode nouvelle entreprise spin-off d'ALPhANOV. Le manager produit est disponible pour répondre aux questions techniques et commerciales.
Caractéristiques du produit
Modularité de durée d'impulsion : du continu jusqu'à la nanoseconde
Mesure des caractéristiques LIV de la diode laser en mode continu et impulsionnel
Chaque diode laser est indépendante (courant, température, mesure optique etc.)
Compatible avec des diodes Butterfly ou autres formes de boîtiers (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can etc.)
Mémoire Flash de 50 Go avec ordinateur embarqué dans chaque tiroir
Programme IHM complet et facile d'utilisation
Fenêtre de protection laser complète
Laser diode reliability test system
Ce système de test de fiabilité de diodes lasers concerne les tests menés :
En parallèle de la production par les équipes R&D et les équipes des services de qualification
A la fin du processus de production (Burn-In)
Après le processus de production pour des applications requérant un haut niveau de fiabilité tels que les applications aérospatiales ou dans le domaine nucléaire.
Une IHM dédiée avec une interface simple d'utilisation permet un contrôle optimum de tous les processus de test de chacune des diodes ou familles de diodes lasers.
Fiche produit
File
LASER DIODE RELIABILITY TEST SYSTEM
Datasheet laser diode raliability system
Ce système de mesure de fiabilité de diodes lasers est l'équipement le plus complet de notre gamme de produits. Nous proposons également une offre complète de solutions de pilotage impulsionnel de diodes lasers simples ou multiples :
Pilote laser
Pilote diode laser bas bruit
Pilote diode laser impulsionnel
Pilote diode laser multicanaux
TDLAS
Diode laser 808 nm
Diode laser 915 nm
Diode laser 980 nm
Diode laser 1064 nm
Diode laser 1550 nm
Spécifications
Nombre de diodes max par baie 112
Gamme de températures puce (°C) 10 - 55
Gamme de température boîtier (°C) 20 - 85
Stabilité en température (Typ) < 1 mK
Modes d'asservissements ACC, APC, LIV
Gamme de courants (régime continu) 1 - 2500 mA
Gamme de courants (régime impulsionnel) 1 - 4000 mA
Durée d'impulsions De 0.5 ns au continu
Tension de compliance (ajustable) 1 - 24 V
Niveau d'overshoot (ajustable) Jusqu'à 0%
Mesure BFM/Photodiode externe Oui / Oui
Mesures des caractéristiques « LIV » :
Continu / Impulsionnel Oui / Oui (prévu)
Modulation en courant Externe ou interne : sin/sqr/triang
Types de drivers 1 driver par diode et
1 scénario de test par diode
Résolution en courant Jusqu'à 25 µA
Stabilité en courant < 0.1 mA
Mémoire Flash embarquée (par tiroir) 50 Go
Interface IHM
Laser driver GUI Interface 1
Laser driver GUI Interface 2