Microscope électronique à balayage standard - Série CX-200
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Description
Microscopes électroniques à balayage standard Série CX-200
1. Interface utilisateur intuitive
2. Fonctions automatiques complète (axes X, Y, R, T, Z) ou en partie manuelle
3. La grande chambre peut accueillir jusqu'à 160 mm (W) * 55 mm (H)
4. Grossissement de x 300 000 (Résolution de 20nm à 30kV)
5. Remplacement rapide d’un échantillon en moins de deux minutes
Microscopes MEB standard haute résolution
La série CX-200 correspond à des un microscopes électronique à balayage (MEB), standard, qui conviendra aussi bien aux utilisateurs expérimentés qu'aux utilisateurs expérimentés, pour de nombreux types d'exigences de recherche et de contrôle de la qualité.
Les CX-200 offrent des capacités d'imagerie haute résolution à un prix très attractif. Après avoir évalué les CX-200, votre recherche de la solution la plus rentable sera une décision facile.
Applications de la Microscopie Électronique à Balayage
Sciences de la vie
La science des matériaux
La Microscopie Électronique à Balayage haute résolution à faible coût
Les CX-200 sont disponibles avec de nombreuses options d'analyse pour la micro-analyse élémentaire EDS et WDS; Analyse cristalline de micro-structure EBSD; et analyse de la structure interne CL (cathodoluminescence). Des capacités d'analyse automatisées pour les caractéristiques et les particules sont disponibles via nos partenaires EDS.
1. Interface utilisateur intuitive
2. Fonctions automatiques complète (axes X, Y, R, T, Z) ou en partie manuelle
3. La grande chambre peut accueillir jusqu'à 160 mm (W) * 55 mm (H)
4. Grossissement de x 300 000 (Résolution de 20nm à 30kV)
5. Remplacement rapide d’un échantillon en moins de deux minutes
Microscopes MEB standard haute résolution
La série CX-200 correspond à des un microscopes électronique à balayage (MEB), standard, qui conviendra aussi bien aux utilisateurs expérimentés qu'aux utilisateurs expérimentés, pour de nombreux types d'exigences de recherche et de contrôle de la qualité.
Les CX-200 offrent des capacités d'imagerie haute résolution à un prix très attractif. Après avoir évalué les CX-200, votre recherche de la solution la plus rentable sera une décision facile.
Applications de la Microscopie Électronique à Balayage
Sciences de la vie
- Microbiologie
- Alimentation / Sciences de l'environnement
- Plantes et animaux
- Médecine / Pharmaceutique
- Corps humain
La science des matériaux
- Chimie
- Automobile
- Construction
- Smartphones
- Energie
- Semi-conducteurs et électronique
- Métaux
La Microscopie Électronique à Balayage haute résolution à faible coût
Les CX-200 sont disponibles avec de nombreuses options d'analyse pour la micro-analyse élémentaire EDS et WDS; Analyse cristalline de micro-structure EBSD; et analyse de la structure interne CL (cathodoluminescence). Des capacités d'analyse automatisées pour les caractéristiques et les particules sont disponibles via nos partenaires EDS.
Les CX-200 offrent un mode «Panorama» unique qui permet au MEB de collecter des images haute résolution d'échantillons volumineux en contrôlant la platine motorisée à un grossissement élevé et de collecter automatiquement des images volumineuses parmi plusieurs à des milliers d'images en mosaïque. Cette fonctionnalité est très utile pour des applications telles que l’examen approfondi ou la métrologie de semi-conducteurs et d’assemblages électroniques, ainsi que pour la production d’images pouvant être imprimées au format affiche ou mur à haute définition.
Détecteurs analytiques facultatifs:
Analyse élémentaire EDS et WDS - EBSD - Cathodoluminescence (CL) - SE/BSE
Accessoires optionnels:
Porte-échantillons - Étape de refroidissement - Nettoyage au plasma - Plate-forme anti-vibration
Capacités d'imagerie
Specifications MEB Standard
Détecteurs analytiques facultatifs:
Analyse élémentaire EDS et WDS - EBSD - Cathodoluminescence (CL) - SE/BSE
Accessoires optionnels:
Porte-échantillons - Étape de refroidissement - Nettoyage au plasma - Plate-forme anti-vibration
Capacités d'imagerie
- Résolution : 3 nm
- Grossissement : 300 000x
- Faisceau d'énergie : 1 - 30 kV
- Positionnement de l'échantillon : 5 axes (XYZRT)
- Extensibilité : 10 ports
Specifications MEB Standard
- 2 modèles de microscopes électroniques à balayage standard sont disponibles : (en image)
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