Microscope électronique à balayage standard - Série CX-200

Microscopes électroniques à balayage standard Série CX-200
1. Interface utilisateur intuitive
2. Fonctions automatiques complète (axes X, Y, R, T, Z) ou en partie manuelle
3. La grande chambre peut accueillir jusqu'à 160 mm (W) * 55 mm (H)
4. Grossissement de x 300 000 (Résolution de 20nm à 30kV)
5. Remplacement rapide d’un échantillon en moins de deux minutes
Microscopes MEB standard haute résolution
La série CX-200 correspond à des un microscopes électronique à balayage (MEB), standard, qui conviendra aussi bien aux utilisateurs expérimentés qu'aux utilisateurs expérimentés, pour de nombreux types d'exigences de recherche et de contrôle de la qualité.
Les CX-200 offrent des capacités d'imagerie haute résolution à un prix très attractif. Après avoir évalué les CX-200, votre recherche de la solution la plus rentable sera une décision facile.
Applications de la Microscopie Électronique à Balayage

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Alimentation / Sciences de l'environnement
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La Microscopie Électronique à Balayage haute résolution à faible coût
Les CX-200 sont disponibles avec de nombreuses options d'analyse pour la micro-analyse élémentaire EDS et WDS; Analyse cristalline de micro-structure EBSD; et analyse de la structure interne CL (cathodoluminescence). Des capacités d'analyse automatisées pour les caractéristiques et les particules sont disponibles via nos partenaires EDS.

Les CX-200 offrent un mode «Panorama» unique qui permet au MEB de collecter des images haute résolution d'échantillons volumineux en contrôlant la platine motorisée à un grossissement élevé et de collecter automatiquement des images volumineuses parmi plusieurs à des milliers d'images en mosaïque. Cette fonctionnalité est très utile pour des applications telles que l’examen approfondi ou la métrologie de semi-conducteurs et d’assemblages électroniques, ainsi que pour la production d’images pouvant être imprimées au format affiche ou mur à haute définition.
Détecteurs analytiques facultatifs:
Analyse élémentaire EDS et WDS - EBSD - Cathodoluminescence (CL) - SE/BSE
Accessoires optionnels:
Porte-échantillons - Étape de refroidissement - Nettoyage au plasma - Plate-forme anti-vibration
Capacités d'imagerie

Résolution : 3 nm
Grossissement : 300 000x
Faisceau d'énergie : 1 - 30 kV
Positionnement de l'échantillon : 5 axes (XYZRT)
Extensibilité : 10 ports

Specifications MEB Standard