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Microscope electronique à balayage (meb) de table minimeb® tm4000/tm4000plus
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Description
Hitachi introduit la 5ème génération de MiniMEB® avec positionnement optique de l'échantillon. Avec plus de 3700 unités installées dans le monde, Hitachi confirme sa position de leader mondial du marché des Microscopes Electronique à Balayage de table (appelés aussi MiniMEB ou MEB de paillasse).
La nouvelle génération de Microscope Electronique à Balayage de table MiniMEB® Hitachi TM4000 et TM4000 Plus répond aux besoins de tous les laboratoires qui souhaitent contrôler la topographie de leurs échantillons de l'échelle millimétrique à l'échelle submicronique et d'en déterminer leur composition chimique.
Le nouveau dispositif de visualisation optique de l'échantillon permet de facilement localiser les zones d'intérêt et de naviguer automatiquement sur des portes échantillons multiples.
Le mode « pression contrôlée » permet l'observation directe de tous types d'échantillons, conducteurs ou isolants, secs gras ou humides.
Un détecteur d'électrons spécifique de très haute sensibilité restitue les informations topographiques et de contraste de numéro atomique, jusqu'à des grandissements de x250.000 (x100.000 en format polaroid). Les informations d'extrême surface sont révélées par l'utilisation d'une faible tension d'accélération combinée à un excellent rapport signal sur bruit.
Le TM4000 Plus possède également un détecteur d'électrons secondaires (UVD).
Un spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) utilisant un détecteur Silicon Drift (SDD) de large surface active détermine la composition à partir de l'élément Bore et permet de réaliser des cartographies élémentaires.
Hitachi intègre au choix le modèle Bruker Quantax 75 ou le modèle Oxford Aztec.
De nombreux accessoires sont disponibles :
-Reconstruction 3D
-Platine refroidie par effet Peltier
-Micromanipulateurs
-Etc
La nouvelle génération de Microscope Electronique à Balayage de table MiniMEB® Hitachi TM4000 et TM4000 Plus répond aux besoins de tous les laboratoires qui souhaitent contrôler la topographie de leurs échantillons de l'échelle millimétrique à l'échelle submicronique et d'en déterminer leur composition chimique.
Le nouveau dispositif de visualisation optique de l'échantillon permet de facilement localiser les zones d'intérêt et de naviguer automatiquement sur des portes échantillons multiples.
Le mode « pression contrôlée » permet l'observation directe de tous types d'échantillons, conducteurs ou isolants, secs gras ou humides.
Un détecteur d'électrons spécifique de très haute sensibilité restitue les informations topographiques et de contraste de numéro atomique, jusqu'à des grandissements de x250.000 (x100.000 en format polaroid). Les informations d'extrême surface sont révélées par l'utilisation d'une faible tension d'accélération combinée à un excellent rapport signal sur bruit.
Le TM4000 Plus possède également un détecteur d'électrons secondaires (UVD).
Un spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) utilisant un détecteur Silicon Drift (SDD) de large surface active détermine la composition à partir de l'élément Bore et permet de réaliser des cartographies élémentaires.
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