Mesure d'états de surface et contour marsurf xr 20

MarSurf XR 20 est l'accès parfait à la classe supérieure en matière de mesure des états de surface. Basé sur PC, l'appareil fournit tous les profils et paramètres courants selon les normes internationales, que ce soit dans la salle de mesure ou dans la production.
Quick & Easy est le nom donné par Mahr au système d’'assistance pour une utilisation rapide et simple
Ne soyez pas impressionnés par le grand nom de ses fonctionnalités, symboles clairs et conviviaux se comprennent immédiatement.
La station de mesure pour l’atelier ou la production. Plusieurs configurations possibles. La voie vous est ouverte vers le monde micro-géométrique des états de surface.
Caractéristiques
Mesures /Valeurs :
Système pour PC avec environnement Windows et progiciel MarSurf XR 20 en français, anglais et allemand
Paramètres et profils : Plus de 65 paramètres pour profil R, P, W et MOTIF avec suivi de tolérance, statistiques, listes de paramètres et courbes caractéristiques
Résolution de profil : Jusqu’à 0,76 nm sur une étendue de mesure de ± 25 µm, en fonction du type de palpeur
Étendue des mesures : ± 25 µm jusqu'à ± 250 µm, en fonction du type de palpeur
Longueur de base N : entre 1 et 5 ou entre 1 et Nmax en mode N x Lc, Nmax = Longueur d’exploration : maximale / mode Lc activé
Type de filtre : GS / 2RC / ISO 13565-1 / inversion NEG, ARC, … (autres filtres spécifiques en option)
Longueur d’onde limite Lc Réglage libre Lc, max. 25 mm Lc = f(Lt); 0,025 mm / 0,08 mm / 0,25 mm / 0,8 mm / 2,5 mm / 8 mm; Lc court et valeur par défaut selon ISO 4288 ; les limites sont dépendantes de Lt et dx
Filtre Ls libre de 1,5 µm à 100 µm ou sélectionnable : 2,5 µm / 8 µm / 25 µm
Unités d'avance : PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120, PRK* (avec adaptateur PAV 62)
Domaine d'utilisation:
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