Instrument de mesure de surface pour vérifier de manière fiable des surfaces de haute précision - topmap pro.Surf

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Vérifier de manière fiable des surfaces de haute précision

Le TopMap Pro.Surf détermine la forme rapidement, de manière fiable et précise. La solution à la pointe de la technologie, le TopMap Pro.Surf est idéale pour mesurer rapidement et simplement des surfaces de haute précision, dans la salle de métrologie, proche de la production ou bien encore grâce à la répétabilité directement sur la chaîne de production. Ce système offre une solution pour toutes les caractérisations de surface, que cela soit de la mesure de planéité, de hauteur de niveau, de parallélisme ou de rugosité. Le modèle séduit à la fois pour sa résolution spatiale, son objectif télécentrique et sa vitesse.

Points forts

Caractérisation rapide et précise de surfaces 3D
Mesure sans contact et résultats répétitifs
Technologie Smart Scanning et un jeu de filtres adaptés pour toutes les surfaces
Volume de mesure important 230 x 220 x 70 mm³
L'optique télécentrique permet de mesurer même sur des points en profondeur
Manipulation d'échantillon sécurisé grâce à une grande distance de travail
Reconnaissance des formes automatique sans positionnement mécanique
Logiciel d’analyse et de mesure simple et pouvant être automatisé

La planéité des surfaces, le parallélisme et la hauteur des marches

Grâce à la combinaison d'un interféromètre à lumière blanche et de la technologie confocale chromatique, aucun détail ne peut passer inaperçu. 2 millions de points de mesure sur une grande surface de mesure de 44 x 33 mm sont enregistrés en quelques secondes, et cela peut s´étendre à une surface de 230 x 220 mm avec recombinaison de mesure. Avec plage de mesure verticale de 70 mm et une excellente résolution verticale indépendante de la taille du champ d'image, il permet une grande marge pour des mesures nécessitant de la flexibilité. L'optique télécentrique atteint même des zones difficilement accessibles, telles que les trous.

Pour cette nouvelle génération de systèmes de métrologie de surface, l’acquisition rapide de données permet de se conformer aux temps de cycle et la vitesse de mesure requise. L’intégration d’outils de traitement d'images, tels que la reconnaissance des formes automatique accélèrent considérablement le process qualité. Plusieurs échantillons sont simultanément enregistrés avec une seule mesure, sans mise en place mécanique et peu importe la position du champ objet.

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