Fischerscope x-ray xdv-sdd

• Analyseur de fluorescence à rayons X universel haut de gamme pour les mesures automatisées de revêtements très minces (<0,05 µm) et pour l'analyse de matériaux fins dans la plage du millième selon ISO 3497 et ASTM B 568
< li>Détecteur de dérive au silicium extrêmement puissant de Fischer avec une surface efficace extra-large (SDD 50 mm²)
• 6x filtres primaires interchangeables et 4x collimateurs interchangeables pour optimiser les conditions de mesure
• Analyse des éléments légers tels que l'aluminium, le silicium et le phosphore
• Hauteur d'échantillons jusqu'à 14 cm
• Platine XY programmable de haute précision avec une précision de positionnement de < 5 µm pour des mesures automatisées sur de petites structures 
• Appareil extrêmement robuste pour les tests en série, avec une stabilité à long terme exceptionnelle
• Dispositif de protection entièrement certifié

• Test de revêtements très minces dans les industries de l'électronique et des semi-conducteurs, par ex. couches d'or et de palladium de moins de 50 nm d'épaisseur 
• Mesure de revêtements de matériaux durs dans la fabrication automobile
• Mesure d'épaisseur de revêtement dans l'industrie photovoltaïque
• Analyse de traces de matières dangereuses substances telles que le plomb et le cadmium selon RoHS, WEEE, CPSIA et d'autres directives pour l'électronique, les emballages et les biens de consommation
• Analyse et test d'authenticité de l'or et d'autres métaux précieux, ainsi que leurs alliages
• Détermination directe de la teneur en phosphore dans les revêtements NiP fonctionnels

Le XDV®-SDD est l'un des analyseurs de fluorescence X les plus puissants de la gamme Fischer. Ce spectromètre XRF est équipé d'un détecteur de dérive de silicium (SDD) particulièrement sensible. Cela vous permet de mesurer même les couches les plus fines de manière non destructive - par ex. revêtements d'or d'environ 2 nm d'épaisseur sur les grilles de connexion. 

Dans le même temps, le XDV-SDD est parfaitement adapté à l'analyse non destructive des matériaux. Par exemple, sa sensibilité de détection des traces de plomb dans le plastique est d'environ 2 ppm, soit plusieurs ordres de grandeur inférieurs aux valeurs requises par RoHS ou CPSIA.

Afin que vous puissiez créer les conditions idéales pour chaque mesure, le XDV-SDD dispose de collimateurs et de filtres primaires interchangeables, ce qui permet de travailler à un niveau scientifique. L'appareil extrêmement robuste n'en est pas moins simple d'utilisation et est spécialement conçu pour les tests en série en usage industriel. Des fonctionnalités telles que sa platine de mesure automatique et l'image en direct de la zone de mesure facilitent votre travail quotidien.