Fischerscope x-ray 5000

• Mesure en continu dans les processus en cours avec connexion aux systèmes de contrôle de production
• Utilisation flexible : pour les mesures sous vide ou dans l'air ; pour des températures d'échantillon jusqu'à 400 °C
• Disponible en option avec refroidissement par eau
• Conception et construction particulièrement robustes pour des mesures durables et précises dans des conditions difficiles
• Extrêmement bien adapté à la mesure de l'épaisseur du revêtement et à l'analyse des matériaux sur les produits avec de grandes surfaces
• La source de rayons X, le détecteur et le filtre primaire peuvent tous être sélectionnés par le client
• Les systèmes sont conformes aux normes DIN ISO 3497 et ASTM B 568

• Épaisseur des couches CIGS, CIS, CdTe et CdS dans l'industrie solaire
• Couches fines de quelques µm d'épaisseur seulement sur des bandes métalliques, des feuilles métalliques et des feuilles plastiques
• Composition des couches CIGS, CIS, CdTe et CdS dans le photovoltaïque
• Contrôle de l'épaisseur des revêtements en production continue
• Surveillance des processus dans les usines de pulvérisation et de galvanoplastie

Le système FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 mesure en continu l'épaisseur de couches minces sur des substrats de grande surface, par exemple dans le photovoltaïque. Les appareils de cette série forment des unités modulaires faciles à installer dans les lignes de production. Le X-RAY 5000 peut fonctionner soit en atmosphère normale, soit sous vide. De plus, l'appareil est conçu pour être facile à entretenir : la tête de mesure peut être entretenue sans avoir à relâcher le vide.

Si le produit bouge ou se gonfle pendant la fabrication, cela peut fausser les résultats de mesure. Pour cette raison, le logiciel WinFTM de Fischer dispose également d'une fonction intégrée de compensation de distance, qui peut compenser des fluctuations allant jusqu'à 1 cm sans nécessiter de capteurs de distance supplémentaires.