Fischer Instrumentation Electronique - Spectromètre de fluorescence x

Caractéristiques - Spectromètres universels de fluorescence X pour l'analyse des métaux et des métaux précieux, la mesure de l'épaisseur de revêtement et le dépistage RoHS selon DIN ISO ...

Caractéristiques - Mesure en continu dans les processus en cours avec connexion aux systèmes de contrôle de production - Utilisation flexible : pour les mesures sous vide ou dans l'air ; pour ...

- L'appareil de mesure XRF fixe répond aux normes de radiographie DIN ISO 3497 et ASTM B 568 - Analyse non destructive des matériaux et mesure de l'épaisseur des revêtements très fins - ...

Fischerscope fixe x - ray xdv - u semi - Caractéristiques - La manipulation et les tests de wafers entièrement automatisés augmentent l'efficacité - Système XRF avec une excellente ...

Caractéristiques - Spectromètre à fluorescence X fixe à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO ...

Fischerscope x - ray 4000 fixe - Caractéristiques - Mesure rapide et fiable à l'aide de XRF - Tous les composants matériels et logiciels ont été développés à des fins de mesure en ligne ...

Caractéristiques - spectromètre de fluorescence universelle à rayons X pour les mesures automatiques des couches & lt; 0,0 5 um et pour l'analyse des matériaux dans la gamme des ppm selon ...

Caractéristiques - Analyseur de fluorescence X portable universel pour une mesure précise de l'épaisseur de revêtement et une analyse des matériaux, même avec des combinaisons de matériaux ...

Caractéristiques - Analyseur de fluorescence à rayons X universel haut de gamme pour les mesures automatisées de revêtements très minces (<0,05 µm) et pour l'analyse de matériaux fins ...

Goldscope sd fixe - Caractéristiques - Test de l'or non destructif, rapide et précis - Chambre de mesure spacieuse - Conception compacte et robuste, conçue pour une utilisation soutenue et à ...

Caractéristiques - Analyse de bains galvaniques et mesure d'épaisseur de revêtement avec fluorescence X selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 - Plus petit point de mesure avec le XULM env. 0,1 ...