Environnements AFM
Description
Environnements AFM
Toujours plus de possibilités avec le Nano-Observer AFM
1. Contrôle de l'environnement : Gaz, humidité
2. Milieu liquide : Pas d'ajustement supplémentaire
3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C
Contrôle de l'environnement
L'AFM Nano-Observer est compatible avec un environnement contrôlé lors de l'acquisition d'images.
Avec l'accessoire de contrôle de l'atmosphère, il est possible d'isoler le volume à l'intérieur de l'AFM, d'introduire un gaz inerte ou de contrôler l'humidité relative. Le réglage de l'humidité relative à des valeurs proches de 0% à l'intérieur de la chambre est essentiel pour obtenir des résultats reproductibles lors de l'utilisation de modes électriques tels que HD-KFM, ResiScope, SMIM, EFM, etc. afin d'éviter les effets de l'oxydation locale dus à la présence de couches d'eau à la surface. Dans le cas d'expériences d'oxydation anodique par sonde locale, il est nécessaire de disposer d'un contrôle précis et reproductible de l'humidité relative (HR) lors de l'étude de la cinétique d'oxydation. Le petit volume de l'accessoire de contrôle de l'atmosphère, associé aux diffuseurs dans l'entrée de gaz de l'AFM Nano-Observer, permet un contrôle rapide des changements d'humidité relative.
Mesure en liquide
Il comprend une cellule et un porte-pointe spécialement conçus pour la création d'images dans des liquides en mode contact ou résonance. De plus, un connecteur peut être inclus dans la cellule liquide pour connecter un bi-potentiostat afin de réaliser des expériences électrochimiques. Le support a été conçu pour que l'angle du point laser réfléchi soit compensé lorsque la cellule est remplie de liquide (eau, PBS,…). L'alignement laser / photodétecteur peut être facilement réalisé dans des conditions ambiantes. Une fois la cellule remplie de liquide, le seul ajustement nécessaire consiste à déplacer le photodétecteur vers le bas pour centrer à nouveau le point laser.
Un autre avantage de la conception spéciale du support est la minimisation du taux d'évaporation du liquide, minimisant ainsi la dérive intrinsèque de l'imagerie en environnement liquide.
Contrôle de la température
L'AFM Nano-Observer est compatible avec l'accessoire de contrôle de la température EZ temperature développé par CSI pour fournir un contrôle de la température et une imagerie précise lors des changements de température.
Il est compatible avec tous les modes AFM. Une platine échantillon chauffante ou refroidissante sont disponibles pour étudier les phénomènes de surface dépendant de la température, tels que les transitions de phase sur des polymères, des matériaux ou des échantillons biologiques.
La plage de température va de la -35°C à 250 ° C. La conception de l'architecture AFM de Nano-Observer minimise le gradient de température entre la platine de chauffage et le scanner, de sorte que la dérive thermique soit minimisée. Cela permet d’obtenir une image stable pendant la montée en température.
Toujours plus de possibilités avec le Nano-Observer AFM
1. Contrôle de l'environnement : Gaz, humidité
2. Milieu liquide : Pas d'ajustement supplémentaire
3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C
Contrôle de l'environnement
L'AFM Nano-Observer est compatible avec un environnement contrôlé lors de l'acquisition d'images.
Avec l'accessoire de contrôle de l'atmosphère, il est possible d'isoler le volume à l'intérieur de l'AFM, d'introduire un gaz inerte ou de contrôler l'humidité relative. Le réglage de l'humidité relative à des valeurs proches de 0% à l'intérieur de la chambre est essentiel pour obtenir des résultats reproductibles lors de l'utilisation de modes électriques tels que HD-KFM, ResiScope, SMIM, EFM, etc. afin d'éviter les effets de l'oxydation locale dus à la présence de couches d'eau à la surface. Dans le cas d'expériences d'oxydation anodique par sonde locale, il est nécessaire de disposer d'un contrôle précis et reproductible de l'humidité relative (HR) lors de l'étude de la cinétique d'oxydation. Le petit volume de l'accessoire de contrôle de l'atmosphère, associé aux diffuseurs dans l'entrée de gaz de l'AFM Nano-Observer, permet un contrôle rapide des changements d'humidité relative.
- Empêche la contamination
- Mesure stable pour la caractérisation électrique
- Volume de l'atmosphère: 451 cm3
Mesure en liquide
- Compensation d'angle laser & Pas d'ajustement supplémentaire
Il comprend une cellule et un porte-pointe spécialement conçus pour la création d'images dans des liquides en mode contact ou résonance. De plus, un connecteur peut être inclus dans la cellule liquide pour connecter un bi-potentiostat afin de réaliser des expériences électrochimiques. Le support a été conçu pour que l'angle du point laser réfléchi soit compensé lorsque la cellule est remplie de liquide (eau, PBS,…). L'alignement laser / photodétecteur peut être facilement réalisé dans des conditions ambiantes. Une fois la cellule remplie de liquide, le seul ajustement nécessaire consiste à déplacer le photodétecteur vers le bas pour centrer à nouveau le point laser.
Un autre avantage de la conception spéciale du support est la minimisation du taux d'évaporation du liquide, minimisant ainsi la dérive intrinsèque de l'imagerie en environnement liquide.
- Compensation d'angle laser.
- Pas de positionnement laser supplémentaire.
- Imagerie de stabilité à long terme en mode résonant.
Contrôle de la température
L'AFM Nano-Observer est compatible avec l'accessoire de contrôle de la température EZ temperature développé par CSI pour fournir un contrôle de la température et une imagerie précise lors des changements de température.
Il est compatible avec tous les modes AFM. Une platine échantillon chauffante ou refroidissante sont disponibles pour étudier les phénomènes de surface dépendant de la température, tels que les transitions de phase sur des polymères, des matériaux ou des échantillons biologiques.
La plage de température va de la -35°C à 250 ° C. La conception de l'architecture AFM de Nano-Observer minimise le gradient de température entre la platine de chauffage et le scanner, de sorte que la dérive thermique soit minimisée. Cela permet d’obtenir une image stable pendant la montée en température.
- Limited thermal expansion
- Thermal insulation
- -35°C to 250°C
- Température précise
- Imagerie pendant le changement de température
- Compatible avec : modes oscillant / contact, contrôle de l'environnement, liquides
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Type d'accessoire pour microscope :
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