Contrôleur pour microscope à force atomique - Galaxy Dual Controller

Galaxy Dual Controller
Le contrôleur GALAXY DUAL crée de nouvelles opportunités pour les utilisateurs d'AFM en combinant de nouvelles fonctionnalités avec celles déjà disponibles sur votre AFM existant. Ce nouveau contrôleur offre plus qu'une seconde vie à votre AFM, il renouvelle et améliore les performances avec de nouveaux modes d'imagerie et un nouveau logiciel intuitif. Le contrôleur USB GALAXY DUAL offre un véritable verrouillage intégré pour une meilleure capacité de mesure (détection de phase, mesure de terrain…). L'électronique et l'alimentation à faible bruit couplées à une architecture de lecteur 24 bits offrent une haute résolution et une intégration intelligente.
Conservez vos modes AFM existants :
Le contrôleur dual galaxy a été conçu pour être entièrement compatible avec : – AFM multimode – Pico SPM (STM) – 5100 AFM – 5500 AFM – Modes STM, Contact, AC, Phase, MFM/EFM/PFM,/LFM, EC
Ajouter de nouveaux modes avancés

• HD-KFM : Pas de lift, sensibilité et résolution beaucoup plus élevées
• ResiScope & Soft ResiScope : Résistance & courant, de 10² à 1012 ohms, également sur échantillons mous
• Mode contact doux intermittent : Adhérence, Rigidité, module d'enfance, force constante = mesure quantitative

L'imagerie AFM haute définition enfin accessible à tous en quelques secondes
Interface conviviale
L'interface utilisateur de NanoSolution est très intuitive et polyvalente ;

• La sélection du mode AFM configure rapidement et automatiquement l'électronique en un seul clic sans aucune aide de la part de l'utilisateur
• L'interface, composée de boutons cliquables et d'un workflow guidé permet une configuration aisée de l'AFM pour une acquisition d'image efficace
• La vue de dessus permet un alignement et un réglage simples du laser en affichant une vue de la réflexion du laser sur la pointe.
• La vue latérale permet une pré-approche très facile sans endommager la pointe et l'échantillon. Le réglage automatique permet à l'utilisateur d'obtenir une image AFM en quelques clics tandis que l'accès aux paramètres donne à un expert la possibilité d'exercer toutes les capacités de l'AFM pour une image de très haute qualité.

Un logiciel conçu pour tous

• Performance et polyvalence

Que l'utilisateur soit novice ou expérimenté, que les besoins de l'AFM soient orientés vers la recherche académique ou l'industrie, NanoSolution est un logiciel adapté à tous.
Le mode automatisé ultra rapide permet aux utilisateurs inexpérimentés de produire une image de qualité très facilement et avec moins d'assistance.
Il suffit à l'utilisateur de suivre les instructions du workflow de configuration de l'AFM et de lancer le scan en 1 clic.

• Réglage automatique
• Approche automatique
• Gain automatique

En parallèle, le mode manuel qui nécessite une expérimentation poussée et nécessite des connaissances accrues dans l'acquisition d'une image, offre un contrôle élevé et donne accès à toutes les fonctions et réglages nécessaires pour que les utilisateurs les plus expérimentés puissent affiner leurs résultats et générer des images de haute qualité exploitables pour leurs analyses.
Spectroscopie avancée
En plus des paramètres de spectroscopie standard, le logiciel Nanosolution dispose de fonctions uniques spécialement créées pour la spectroscopie de courbe de force.

• Le FLEX GRID permet à l'utilisateur de sélectionner plusieurs points à obtenir lors du scan et les courbes de force aux coordonnées sélectionnées. Un fichier interactif lui permettra alors de positionner courbe sur topographie (ou autre signal).
• Le FIXED STEP GRID permet à l'utilisateur d'obtenir une cartographie de courbe de force configurée en nombre de points par ligne.
• L'EXPERT CURVE CONTROL est une programmation segmentée du déplacement du palpeur en Z avec différents paramètres : vitesse, résolution ou encore durée.

Ces fonctions uniques font de NanoSolution un logiciel puissant pour les courbes de force.