Analyseur d'impédance haute fréquence jusqu'à 300 mhz et rapide 0,5ms : im7580
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Mr. Simon Le Guen
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par EQUIPEMENTS SCIENTIFIQUES
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Description
L'analyseur d'impédance IM7580, mesurant des impédances jusqu'à 300MHz, peut être utilisé pour mesurer des composants électroniques hautes fréquences. Cet instrument peut augmenter la productivité des fabricants de composants électroniques grâce à sa capacité de tester rapidement, en 0,5 ms, de large volume de composants.
Rapide et mesure haute fréquence 300MHz
L'IM7580 peut mesurer des impédances sur des fréquences de 1MHz à 300MHz. Fonctionnant en pont RLC, mesure sur fréquence unique, l'analyseur d'impédance peut être utilisé pour générer les validations PASS / FAIL durant l'inspection à l'expédition. Fonctionnant en mode analyseur, la fréquence varie tout en effectuant la mesure, l'analyseur d'impédance peut être utilisé pour évaluer les caractéristiques du produit en développement et une variété d'autres applications.
Gain de productivité grâce à des mesures rapide en 0,5 ms
L'analyseur d'impédance peut effectuer une mesure en 0,5 ms. Pour les fabricants de composants électroniques, cela représente la possibilité de tester de large volumes de composants et donc d'augmenter leur productivité. En outre, la répétabilité de la mesure a été augmentée par un facteur 10.
Rapide et mesure haute fréquence 300MHz
L'IM7580 peut mesurer des impédances sur des fréquences de 1MHz à 300MHz. Fonctionnant en pont RLC, mesure sur fréquence unique, l'analyseur d'impédance peut être utilisé pour générer les validations PASS / FAIL durant l'inspection à l'expédition. Fonctionnant en mode analyseur, la fréquence varie tout en effectuant la mesure, l'analyseur d'impédance peut être utilisé pour évaluer les caractéristiques du produit en développement et une variété d'autres applications.
Gain de productivité grâce à des mesures rapide en 0,5 ms
L'analyseur d'impédance peut effectuer une mesure en 0,5 ms. Pour les fabricants de composants électroniques, cela représente la possibilité de tester de large volumes de composants et donc d'augmenter leur productivité. En outre, la répétabilité de la mesure a été augmentée par un facteur 10.
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