Zeiss crossbeam - gemini 2 - pour analyse fib-sem
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Alexia CHAUDERLOT
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par CARL ZEISS - DIVISION MÉTROLOGIE
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Description
Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution (FE-SEM) avec la capacité d'un faisceau d'ions focalisé (FIB) de nouvelle génération.
Tirez parti du concept de plate-forme modulaire du ZEISS Crossbeam et mettez à niveau votre système avec des besoins croissants, par ex. avec le LaserFIB pour une ablation massive de matériaux.
Pendant l’usinage, l'imagerie ou lors de l'exécution d'analyses 3D, le Crossbeam accélérera vos applications FIB.
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ZEISS, entreprise technologique de premier plan à l'échelle internationale, est présente dans plus de 50 pays et emploie 31 000 salariés dans le monde. ZEISS développe, produit et distribue des solutions hautement innovantes pour la métrologie industrielle et le contrôle qualité, des solutions de microscopie pour la recherche en sciences de la vie et des matériaux ainsi que des solutions de technologie médicale pour le diagnostic et le traitement en ophtalmologie et en microchirurgie. Notre gamme de produits dédiés à la métrologie comprend des machines de mesure tridimensionnelle, des systèmes optiques et multicapteurs, des capteurs et systèmes de mesure 3D ainsi que des logiciels de métrologie pour les industries automobile, aéronautique, mécanique, plastique, énergie, défense et médicale. Des technologies innovantes telles que la métrologie par rayons X 3D pour le contrôle qualité et la microscopie industrielle pour l'analyse des matériaux complètent le portefeuille de produits.
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Demande de cotation, voici les caractéristiques du microscope électronique:
Phase automatisée et motorisée sur les axes XY et Z
Diapositives prises en charge : 26x76mm (4 diapositives) ou 51x76mm (2 diapositive) ou n'importe quelle diapositive jusqu'à .
51 mm (l) et 76 mm (l)
- Objectifs pris en charge (air uniquement) : 20x, 40x, 60x
- Lumière transmise
- Dimensions et poids : 45cm x 40cm x 30cm ; 25kg
Logiciel d'exploitation
- Logiciel d'exploitation pour le matériel
- 3 modes différents : 1) mode Live view (microscope), 2) mode de numérisation (scanner), 3) mode de numérisation instantanée
- mode de balayage (hybride)
- Vue d'ensemble
- En option : reconnaissance des codes-barres
- L'assemblage en direct rend le changement d'objectif inutile
- Live-Stitching : grand champ de vision avec haute résolution
- Navigation tactile possible
- Contrôle à distance et accès en temps réel
- Autofocus
- Annotations, mesures, comptages et manipulations
- Exportation et numérisation des diapositives : VMIC, TIFF, JPEG, BMP, PNG
- Exportation des annotations : CSV / XLS, PDF
Logiciel de visualisation
- Logiciel de visualisation de diapositives numérisées et virtuelles
- Formats de diapositives pris en charge : PreciPoint (.vmic) ; Aperio (.svs, .tif) ; Hamamatsu (.vms, .vmu, .ndpi) ; Leica (.scn) ; MIRAX (.mrxs) ; Philips (.tiff) ; Sakura (.svslide) ; Trestle (.tif) ; Ventana (.bif, .tif) ; Générique: TIFF (.tif) en mosaïque ; .jpg ; .tiff ; .bmp ; .png ; .gif
- Formats stockables : TIFF, JPEG, BMP, PNG
- Navigation tactile possible
- Annotations, mesures, comptages et manipulations
- Applications logicielles et analyses supplémentaires disponibles sur demande
Numérisation et scanning
- Scans (complets ou partiels) et instantanés créés en moins de 60 secondes
- 5 modes de numérisation différents disponibles (qualité, vitesse)
- Mode de balayage instantané : 15 x 15 mm en 30-60 secondes (objectif 20x)
- Mode de balayage : 15 x 15mm en 2mi
Mohamed O (Toulouse - Haute-Garonne - 31)
